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浅谈红外测温仪误码测试仪

发表于：2012/9/15 0:29:48 标签：

红外测温仪误码测试仪简介：

　　传统的误码测试仪基于CPLD和CPU协同工作，不仅结构复杂，价格昂贵，而且不方便携带。基于FPGA的高速误码测试仪，采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计，提高了系统功能扩展性和系统的集成度，使得各个功能模块在不改动硬件电路的情况下可以相应变化。在发送端发送m序列作为测试数据，其测试速率最高可达到155 Mh/s。

　　评价一个通信系统的可靠性的指标就是检测该通信系统在数据传输过程中误码率的大小，本文设计的高速信号误码测试仪，用于对EPON中接收和发送突发光信号的接收模块的可靠性进行检测。目前误码分析仪的工作模式已发展到如下4种：分析仪模式、发生器模式、分析仪/发生器模式、直通模式。本设计中的误码测试仪属于第3种类型，即该误码测试仪可以产生测试的码流，又可以进行误码测试。

　　FPGA的误码测试仪的设计:

　　在设计中SY87739L合成的频率用于伪随机序列合成的同步时钟，因为该误码测试仪可以测试的频率有32 Mb/s、64 Mb/s、122 Mb/ s、155 Mb/s 4种。所以该芯片要根据设置的参数合成相应的频率。具体合成哪一个，由FPGA来实现对SY87739L的控制。

　　SY87739L(规程式透明3.3 V 10～729 MHz分数N合成器)是一个频率合成芯片。依照一参考频率源，它可以合成10～729 MHz范围内的差分频率。此外它可以精确地为标准的传输协议合成相应的参考频率。SY87739L合成的频率是由一个32位的串行输入的编程数据决定。PROGCS为高电平时，编程数据才会被SY87739L接收。若用户需要改变编程数据获得一个新的频率时，应先将PROGCS设置为高电平，延时一段时间(待32 bit编程数据被SY87739L接收)后在回落到低电平。既在PROGCS的下降沿时，SY87739L会由前一时段接收到32 bit编程数据决定合成新的频率。具体步骤如下：1)确定编程数据的值;2)设置PROGCS为高电平;3)串行输入32 bit编程数据(由PROGDI管脚输入)，同时在PROGSK端输入时钟信号;4)设置PROGCS为低电平;5)等待LOCKED跳为高电平。

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